金属平面度检测，二氧化硫腐蚀检测

除了 RF 方法之外，测量也可以使用前部加热/前部探测（FF）的结构进行。在 FF 测量配置中，加热激光与探测激光处于样品的同一面。这一方法可以应用于非透明基体上的薄层材料，即 RF 方法不适合的场合（如下图所示）。

设备参数

NanoTR

测量范围:0.01~1000mm2/S;

样品宽度:10~20mm2;

样品厚度:≤1mm;

温度范围:RT~300℃;