五金可靠性测试，螺丝盐雾测试浓度

可靠性测试

以下是TI针对其产品可靠性进行的各种类型测试的信息：

加速测试

大多数半导体器件的正常使用寿命延长多年。但是，我们不能等待几年才能研究一种设备; 我们必须增加施加的压力。应用压力增强或加速潜在故障机制，帮助识别根本原因，并帮助TI采取措施防止故障模式。

在半导体器件中，一些常见的促进剂是温度，湿度，电压和电流。在大多数情况下，加速测试不会改变失败的物理过程，但它确实会改变观察的时间。加速和使用状态之间的转变被称为“降额”。

高度加速的测试是基于JEDEC的鉴定测试的关键部分。以下测试反映了基于JEDEC规范JESD47的高度加速条件。如果产品通过了这些测试，则该设备在大多数使用情况下都可以接受。