主板老化测试,零部件清洁度分析
主板老化测试,零部件清洁度分析
存储温度测试标准
A高温贮存试验
试验目的:检验产品在高温环境条件下贮存的适用性
试验设备:恒温恒湿试验箱
试验样品:6SETS
试验内容:被测产品不包装、不通电,以正常位置放入试验箱内,使试验箱温度达到60±2℃,温度稳定后持续16小时,持续期满,立即进行试验后检测。
判定标准:通过基本功能测试;外观和结构正常。
B低温贮存试验
试验目的:检验产品在低温环境条件下贮存的适用性
试验设备:恒温恒湿试验箱
试验样品:6SETS
试验内容:被测产品不包装、不通电,以正常位置放入试验箱内,使试验箱温度达到-20±2℃,温度稳定后持续16小时,持续期满,在正常大气条件下放置2H,放置期满,被测样机进行试验后的检查。
判定标准:通过基本功能测试;外观和结构正常。
HOT TEST 高温+60℃COLD TEST低温-20℃(-40℃ 加拿大)ONE CYCLE 一周期循环8Hours+8Hours判定标准:产品外观/结构正常,基本功能正常。
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