失效分析半导体检测，镀锌块盐雾试验

01 电阻器的失效模式与机理

▶开路：主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落，基体断裂，引线帽与电阻体脱落。

▶阻值漂移超规范：电阻膜有缺陷或退化，基体有可动钠离子，保护涂层不良。

▶引线断裂：电阻体焊接工艺缺陷，焊点污染，引线机械应力损伤。

▶短路：银的迁移，电晕放电。

02 失效模式占失效总比例表

▶线绕电阻：

▶非线绕电阻：