电子元件喷霜测试分析机构,高温强度试验
电子元件喷霜测试分析机构,高温强度试验
配器的组成部分。 包括所有的功能。 使用方便, 节省了大量时序分析
的代价。 设计者可以通过时序分析器方便地获得任何莱迪思 ISP 器
件的引脚到引脚的时序细节。 通过一个展开清单格式方便地查看结
果。 -
ispVHDLTM: 莱迪思开发系统。 包括功能强大的 VHDL 语言和灵活的
在系统可编程。 完整的系统工具包括 Synopsys, Synplicity 和
Viewlogic, 加上 ispDS+ HDL 综合优化逻辑适配器。 -
ispVM System: 莱迪思半导体第二代器件下载工具。 是基于能够提供
多供应商的可编程支持的便携式虚拟机概念设计的。 提高了性能, 增
强了功能。 -
JEDEC file(JEDEC 文件): 用于对 ispLSI 器件编程的工业标准模
式信息。 -
JTAG(Joint Test Action Group-联合测试行动组): 一系列在主板
加工过程中的对主板和芯片级进行功能验证的标准。 -
Logic(逻辑): 集成电路的三个基本组成部分之一: 微处理器内存和
逻辑。 逻辑是用来进行数据操作和控制功能的。 -
Low Density PLD(低密度可编程逻辑器件): 小于 1000 门的 PLD,
也称作 SPLD。 -
LUT (Look-Up Table-查找表): 一种在 PFU 中的器件结构元素,
用于组合逻辑和存储。 基本上是静态存储器(SRAM) 单元。 -
Macrocell(宏单元): 逻辑单元组, 包括基本的产品逻辑和附加的功
能: 如存储单元、 通路控制、 极性和反馈路径。
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