dsc测定中心，导体直流电阻试验

在使用LCR测试仪进行元器件参数测量时，其关键问题是测量误差。它的误差主要来源于两方面，一方面是LCR测试仪本身的内部误差，另一方面是由于不正确校准、测试件连接方法及不正确选择测量电路模型所引起的误差。

为了满足广大用户在材料、半导体和元器件测试等领域多个环节的阻抗测试需要，华盛昌研发推出了一款手持式DT-9935 LCR数字万用表，它能够以合理的精度，准确稳定地测量各种元件参数。

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华盛昌DT-9935 LCR测试仪优势解读

DT-9935 LCR测试仪可以在测量并参考次级参数（损耗因素D、品质因素Q、相位角Θ，等效串联及并联电阻）的基础上测量电感、电容及电阻。