密封条玻璃化转变温度测试，半导体电导率测试

由在SE颗粒制造过程中和离子电导率测量过程中的不同条件引起的。特别是，在SE颗粒制造过程中施加的压力（制造压力）以及电极|固态电解质|电极堆栈装置电导率测量过程中施加的压力（堆栈压力）对获得的离子电导率值有很大影响。

【成果简介】

在本研究中，德国马尔堡大学Bernhard Roling课题组系统研究了制造压力和堆栈压力对非晶电解质、玻璃陶瓷电解质和微晶电解质的离子电导率的影响。研究发现，这些类型的材料在制造压力和堆栈压力上对离子电导率的影响存在显着差异（图1），并对以下方面有一定影响：（i）获得特定非-退火SE颗粒可靠的离子电导率值，该值接近SE颗粒的真实本体离子电导率；（ii）评估SEs在ASSBs中的性能。