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眼镜折射率检测,电阻抗测量
发布时间:2024-10-05

眼镜折射率检测,电阻抗测量

规定的试样长度及尺寸;芯棒直径,卷绕圈数,绕速,(低温或老化)温度及时间;直接判断试样有无裂痕或做耐电压测试来判定。


低温/热卷绕试验

规定的试样长度及尺寸;处置温度及时间;芯棒直径,卷绕方式,卷绕圈数;直接判断试样有无裂痕或做耐电压测试来判定。


冷弯试验

低温温度及时间,绕速及圈数。


弯曲试验

弯曲半径,负重,摆角,摆动速度。


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