薄膜折射率测定，活性材料交流阻抗测试

低温下贮箱形成微裂纹产生渗漏，其原因主要是EP自身较高的线膨胀系数与CF轴向负膨胀系数不匹配，界面热应力过大，因此降低EP线膨胀系数是改善复合材料贮箱低温渗漏性能的有效方法。

本课题选用经KH550偶联剂处理的纳米二氧化硅作为填料，在前文的基础上掺杂进入E-51与TDE-85两种树脂，制备改性树脂胶体，并且测试了其0 ~ -196℃的线膨胀系数。

n-SiO2/EP共混相关表征

为了验证二氧化硅已经与环氧树脂形成杂化材料，我们进行了一系列测试 来对材料的结构和元素进行表征；

纳米SiO2粒子偶联前后的红外光谱测试图，3449 cm-1和1637 cm-1附近是水的特征峰，1095强且宽的吸收峰是 Si-O-Si的反对称伸缩振动；