光敏电阻的检测方法，介电常数检测中心

开口同轴线法

开口同轴线法是通过测量材料的反射系数计算其电磁参数的，测量对象可以是液体、固体材料，尤其在生物上的应用较多[。开口同轴线法的大优点就是无损量，但通过计算只能得到介电常数，适用的频率范围主要在微波波段。在实际测量过程中，由于待测样品存在较大的差异，常用的探头类型也有较大的区别，如图 1-4 所示。

综上所述，平行板类电容器方法一般适用于测量相对较低频段下的介电常数，通过测量电容器的电容和损耗角进而计算材料的介电常数；谐振腔测量技术是通过测量谐振频率点的品质因数 Q 值进行计算得到材料的介电常数；开口同轴线法通过测量反射系数计算待测材料的介电常数。谐振腔测量技术和开口同轴线法适用于射频、微波波段。这几种测量方法测量的参数不尽相同，因此通过公式计算得到的参数也不完全一致。平行板电容器法和开口同轴线法只能测量r ，而谐振腔测量技术可测量r 和r 。这几种方法的测量精度也是不一样的，其中精度高的是谐振腔测量方法。表 1-1 对这些方法进行了简要的总结。