bms绝缘电阻检测，薄膜介电常数和损耗测试

德科技可以提供多种仪器、夹具和软件，用于测量材料的介电特性。是德科技测量仪器能够覆盖高1.1THz的频率范围，配合各种夹具支持同轴探头法、平行板法、同轴/波导传输线法、自由空间法和谐振腔法等，以下将主要介绍如何根据被测材料的情况选择合适的测试方法。

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同轴探头法

通过将探头浸入液体或用其接触固体 (或粉末) 材料的平坦表面，网分仪通过测量S11再换算到介电常数。

1、对被测材料要求：液体、软质整合固体（表面平整能够与探头紧密贴合无空气间隙）、半固体，"半无限" 厚度、非磁性、各向同性和均质、无空隙