半导体的电阻率测量，电线耐电压测试

aCPM测量的(a)设备配置，使用两个探测器，一个放置在样品后面以测量源通过样品的传输通量强度，另一个用于测量源的通量强度。

测量的比率传输和入射通量可以用来获得样品的样品(B) aCPM结果相比sCPM的干涉条纹aCPM吸收系数光谱不再存在和光谱校准其值使用里特公式。

虽然aCPM测量时间长，但通过测量吸收系数，取得了很好的结果。一个样品的测量时间可以达到24小时或更多。这是由于使用单色光源导致CPM的测量过程很长。为了得到每个光子能量的吸收系数，单色器需要改变每一步的光子能量。

对于每一个光子能量，光电流需要通过调整到达样品的光子通量来保持恒定。通量调整是通过调整单色器出口的虹膜直径来完成的。所有这些测量程序都导致较长的测量时间，如果我们想要更高分辨率的测量，时间甚至更长。