测量金属丝电阻率实验，可见反射率检测

提出了一种新颖的CPM方法，该方法利用放置在薄膜样品后的光子探测器。实验设置如图10a所示。这种新方法的开发旨在抑制光吸收光谱中的干涉条纹。通过使用透射光而不是入射光作为光通量的参考，来实现干涉条纹的抑制。

透射光中的干涉存在抑制了样品光电流与探测器光电流之间终比率中的干涉。这种方法在sasakI的论文[23]中被应用，并进一步被引入为“透射模式CPM”（TCPM）。

报道了CPM的新研究，该方法结合了sCPM和TCPM的实验设置。这种技术被称为CPM（aCPM），因为它有能力使其吸收系数光谱 使用里特-韦瑟公式[38]校准CPM谱的值。aCPM的结构及其测量结果的一个实例如图11所示。