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半导体的电阻率测试,三元材料磁性物质测试方法
发布时间:2024-07-04

半导体的电阻率测试,三元材料磁性物质测试方法

FE系列磁通计采用高精密低漂移的电子积分器件进行设计和生产,在使用提拉法测试样品测磁通的过程中,本磁通计能快拉、慢拉法的数据保持高度吻合,能够重复测量和回复测试。FE-201磁通计具有峰值锁定、自动判断极性等功能,操作简单,步骤简洁。FE-210B高精度磁通计测试精度更高(量程更大),并且测量响应,在测量过程中不会丢失数据,测试精度高,漂移小。

 

应用领域:

 

采用提拉线圈测试永磁体的磁通

 

采用亥姆霍兹线圈测量永磁体的磁矩

 

采用闭路工装测试电机转子、定子整体磁通量 


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