阻抗测量，测定铁磁材料的磁化曲线

尽管在许多情况下，大家希望最快的上升时间，这样能够提供更好的解析度，但在某些情况下，极快的上升时间在TDR测量中也会给出误导性结果。为了与实际讯号保持一致，很多规范要求，阻抗测量时TDR 的上升时间与实际讯 号保持一致，如USB2.0 要求400ps 的TDR 上升时间，Infiniban要求200ps 的TDR上升时间等，TDS8000B+80E04 TDR 採用了Intel PCB 测试方法上推

荐的Filter 方法，这种方法应变迅速，不要求任何额外的校准步骤。过滤的波形结果与使用外部发生器发生同等脉衝所作的类似测量非常一致。适合于单端、差分阻抗、共模阻抗的测量。规范的“4.3” 介绍了TDR 探头的情况，结合Intel的PCB 测试方法，TDR探头主要有三类 ：

Handheld手持探头

SMA 探头

MicroProbe微探头