绝缘阻抗测试，导热系数测试机构

在过去，LCR测试仪使用电桥方法对元件性能进行验证。但随着现代模拟和数字技术的发展，特别是高速运放，微处理器技术的发展，现代阻抗测量技术正向着更高精度、更多功能、更高速度及集成和智能的方向发展，自动平衡电桥法逐渐成为主流。

使用自动平衡电桥法的仪器也称为数字式LCR测量仪，不仅可以测出阻抗，还可以直接显示L-Q,C-D,R-D和Z-Q（品质因数Q、损耗因数D）电感电容值参数等。

自动平衡电桥法原理

在使用LCR测试仪进行元器件参数测量时，其关键问题是测量误差。它的误差主要来源于两方面，一方面是LCR测试仪本身的内部误差，另一方面是由于不正确校准、测试件连接方法及不正确选择测量电路模型所引起的误差。