smc复合材料热失重检测，树脂原材料测试

与此同时，发射电路受触发产生高频窄脉冲，加至探头，激励压电晶片振动，在工件中产生超声波。超声波在工件中传播，遇缺陷或底面发生反射，返回探头时，又被压电晶片转变为电信号，经接收电路放大和检波，加至示波器垂直偏转板上，使电子束发生垂直偏转，在水平扫描线的位置上产生缺陷波和底波。根据缺陷波的位置可以确定缺陷的埋藏深度，根据缺陷波的幅度可以估算缺陷当量的大小[10]。

超声C扫描系统是在A型显示的基础上进行的，C型显示（见图3）系统中有一个电子深度门，经接收电路放大后的回波，只有落在门范围之内的才会在荧光屏上显示形成亮点，亮点在荧光屏上的位置与探头在工件上的位置一一对应。当探头按照一定形式对工件表面进行扫查时，荧光屏上就可以得到工件界面视图以及工件内部缺陷信息。目前C型显示不仅能显示缺陷的长度和宽度，而且能用不同颜色来表示埋藏深度和回波幅度[11]。

图3 超声C扫原理图