分子检测怎么检测，xps定性分析

x射线光电子能谱分析（XPS）和x射线能量色散谱分析（EDS） 有什么不同？

1. 二者都是表面元素分析，eds比xps测试的深度更大一些，大约几个微米，但是其精度远不如xps，不能做元素形态分析。

2. xps是对固体样品表面进行化学成分的定性分析、半定量分析、元素化合价的分析，以及进行元素成分的深度剖析。eds是元素定性、定量分析；元素的线分布和面分布，分辨率较低。

3. xps比较高端些，需要真空环境。eds直接扫描就行，结果比较粗糙，适合快速检测。

X射线光电子能谱是把什么应用到研究材料表面的电子结构科学？

X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术，而且是和俄歇电子能谱技术（AES）常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移，所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、化学状态、分子结构、化学键方面的信息。

它在分析电子材料时，不但可提供总体方面的化学信息，还能给出表面、微小区域和深度分布方面 的信息。另外，因为 入射到样品表面的X射线束是一种光子束，所以对样品的破坏性非常小。这一点对分析有机材料和高分子材料非常有利。