高分子分子量测量，xps分峰分析

小角X射线散射（SAXS）——晶体在原子尺寸上的排列

晶体中的原子在射入晶体的X射线的作用下被迫强制振动，形成一个新的X射线源发射次生X射线。

如果被照射试样具有不同电子密度的非周期性结构，则次生X射线不会发生干涉现象，该现象被称为漫射X射线衍射。X射线散射需要在小角度范围内测定，因此又被称为小角X射线散射。

试样制备要求：

块状试样：块状试样太厚，光束无法通过，因此必须减薄；

薄膜试样：如薄膜试样厚度不够，可以用几片相同的试样叠加在一起测试；

粉末试样：粉末试样应研磨成无颗粒感，测试时，需用非常薄的铝箔（载体）包住，或把粉末均匀搅拌在火棉胶中，制成合适厚度的片状试样；

纤维试样：对于纤维状试样，应尽可能剪碎，如同粉末试样那样制备；

颗粒状试样：对于无法研磨的粗颗粒状试样是比较麻烦的。一个方法是将颗粒尽可能切割成相同厚度的薄片，然后整齐的平铺在胶带上；另一个方法是将颗粒熔融或溶解，制成片状试样，但前提是不能破坏试样原有的结构；