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固化剂硬度检测,二氧化硅红外光谱分析
发布时间:2025-01-21

固化剂硬度检测,二氧化硅红外光谱分析

红外谱图解析基本知识

1、基团频率区

中红外光谱区可分成4000cm-1~1300(1800)cm-1和1800(1300)cm-1~600cm-1两个区域。有分析价值的基团频率在4000cm-1~1300cm-1之间,这一区域称为基团频率区、官能团区或特征区。区内的峰是由伸缩振动产生的吸收带,比较稀疏,容易辨认,常用于鉴定官能团。

在1800cm-1(1300cm-1)~600cm-1区域内,除单键的伸缩振动外,还有因变形振动产生的谱带。这种振动基团频率和特征吸收峰与整个分子的结构有关。当分子结构稍有不同时,该区的吸收就有细微的差异,并显示出分子特征。这种情况就像人的指纹一样,因此称为指纹区。指纹区对于指认结构类似的化合物很有帮助,而且可以作为化合物存在某种基团的旁证。

基团频率区可分为三个区域

(1)4000~2500cm-1X-H伸缩振动区,X可以是O、N、C或S等原子。O-H基的伸缩振动出现在3650~3200cm-1范围内,它可以作为判断有无醇类、酚类和有机酸类的重要依据。

当醇和酚溶于非极性溶剂(如CCl4),浓度于0.01mol.dm-3时,在3650~3580cm-1处出现游离O-H基的伸缩振动吸收,峰形尖锐,且没有其它吸收峰干扰,易于识别。当试样浓度增加时,羟基化合物产生缔合现象,O-H基的伸缩振动吸收峰向低波数方向位移,在3400~3200cm-1出现一个宽而强的吸收峰。胺和酰胺的N-H伸缩振动也出现在3500~3100cm-1,因此,可能会对O-H伸缩振动有干扰。


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